當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 傳感器檢測(cè) > SPAD檢測(cè) > SPD2200新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備
簡(jiǎn)要描述：單光子探測(cè)器可以對(duì)單個(gè)光子進(jìn)行探測(cè)和計(jì)數(shù)，在許多可獲得的信號(hào)強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級(jí)的新興套用中，單光子探測(cè)器可以一展身手。SPD2200是針對(duì)新型的單光子偵測(cè)器（SPD, Single Photon Detector），如應(yīng)用於dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector）光感測(cè)器，的特性測(cè)試分析設(shè)備。
產(chǎn)品型號(hào)：SPD2200廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-03-27訪 問(wèn) 量： 5620產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Enlitech | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車及零部件 | 暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate) | DCR |
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 測(cè)量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含：
*全光譜光譜回應(yīng)（SR， Spectral Responsivity）
*全光譜量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）
*全光譜光子探測(cè)率（PDP， Photon Detection Probability）
*暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）
*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）
SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光感測(cè)器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn)，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本，並降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。 加快產(chǎn)品的開發(fā)週期，提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)係圖
*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測(cè)量
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